






普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率器件(如MOSFET、 BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半导体等)的静态参数,具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、nA级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容测试,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,配置有多种测量单元模块,模块化的设计测试方法灵活,能够极大方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。
联系我们:
单位名称:武汉普赛斯仪表有限公司
网站:http://www.whpssins.com
单位地址:武汉市东湖技术开发区光谷三路777号6号保税物流园6号楼4楼
联系人:陶女士
联系电话:18140663476/027-87993690
工作QQ:1993323884
邮箱:taof@whprecise.com
免责声明
本网页所展示的有关【功率半导体测试设备igbt|SiC静态参数测试机】的信息/图片/参数等由的会员【
武汉普赛斯仪表有限公司
】提供,由好厂家平台会员【
武汉普赛斯仪表有限公司
】自行对信息/图片/参数等的真实性、准确性和合法性负责,本平台(本网站)仅提供展示服务,请谨慎交易,因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决,本平台(本网站)对此不承担任何责任。
您在本网页可以浏览【功率半导体测试设备igbt|SiC静态参数测试机】有关的信息/图片/价格等及提供【功率半导体测试设备igbt|SiC静态参数测试机】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时,请您致电400-1799-787,我们将竭诚为您服务,感谢您对好厂家平台的关注与支持!