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| 压力传感器Ⅳ特性测试SMU源表 压力传感器Ⅳ特性测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而,由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接 |
2026-10-15 | |
| 二极管电性能分析VI数字源表 IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一,普赛斯“五合一”高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工 |
2026-10-15 | |
| 三极管输入输出特性曲线VI源表 三极管是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结 |
2026-10-15 | |
| 晶体管参数曲线图示仪iv+cv测试设备 晶体管参数曲线图示仪iv+cv测试设备概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系 |
2026-10-15 | |
| 半导体功率测试机-功率器件分析仪 随着行业技术革新和新材料性能发展,功率半导体器件结构朝复杂化演进,功率半导体的衬底材料朝大尺寸和新材料方向发展。以SiC( |
2026-10-15 | |
| 高功率源表30A直流100A脉冲大功率器件测试 HCP系列高功率源表具备直流和脉冲输出能力,蕞大脉冲输出电流100A,蕞大输出电压100V,蕞大直流功率300W,蕞大脉冲功率5000W,支 |
2026-10-15 | |
| 大功率系统数字源表替代2651A HCP系列大功率系统数字源表替代2651A具备直流和脉冲输出能力,最大脉冲输出电流100A,最大输出电压100V,支持四象限工作,输出及 |
2026-10-15 | |
| IGBT来料检测仪器igbt单管|模块测试机 随着行业技术革新和新材料性能发展,功率半导体器件结构朝复杂化演进,功率半导体的衬底材料朝大尺寸和新材料方向发展。以SiC( |
2026-10-15 |